可程式 冷熱循環試驗箱 TSD- 80F-2P
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業,國防工業、航天、兵工業、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的品質，從精密的IC到重機械的組件,無-不需要它的理想測試工具。

可程式 冷熱循環試驗箱 TSD- 80F-2P

用途:

該設備主要是測試產品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗,主要用于對電工、電子產品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應性試驗,對產品的物理以及其它相關性能進行測試:

1.在研制階段用以暴露試制產品各方面的缺陷,評價產品可靠性達到預定指標的情況;

2.生產階段為監控生產過程提供信息;

3.對定型產品進行可靠性鑒定或驗收;

4.暴露和分析產品在不同環境和應力條件下的失效規律及有關的失效模式和失效機理;

5.為改進產品可靠性,制定和改進可靠性試驗方案,為用戶選用產品提供依據。

可程式 冷熱循環試驗箱 TSD- 80F-2P

樣品陽層架對試驗物的承重量: 2. 5kg以內，如有澀重的測試物訪卜單時注明。

出溫上升時舊約!: 40uin

低溫卜降時舊約!: 80uin

品溫些溫變zu1島可儲子至: 60C 200C

低溫雪溫變zui低丁伴存至: 70C“ 10C 

溫變移動沖木時日仁: 10秒鐘內

溫變沖十實復穩定時但在: 3 5分鐘內

此設備分為高溫區、低溫區、測試區三部分，測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結構,

強制冷熱風路切換方式導入測試區，完成冷熱溫度沖擊測試。